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電腦膜層測厚儀JL-LKTC-1/LKT
  • 發(fā)布日期:2019-12-12      瀏覽次數(shù):910
    • 產(chǎn)品特點:

      1.采用了磁性和渦流兩種測厚方法,既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,又可測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度;

      2.分體(傳感器與儀器之間通過引線連接)、兩用(F型N型合一);

      3.*的溫度補償算法;

      4.具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);

      5.具有統(tǒng)計功能:平均值(MEAN)、大值(MAX)、小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV);

      6.具有存儲功能:可存儲500 個測量值。

      主要功能:

      測頭類型FN
      工作原理磁感應電渦流
      測量范圍0~1250μm0~1250μ
      其中:銅上鍍鉻(0~40μm)
      分辨力0.1μm(0~50μm)  1 m( 50μm)
      測量誤差3%H+1μm(H為測量范圍)
      示值誤差
      一點校準(μm)±(3%H1)±(3%H+1.5)
      二點校準(μm)±[(1~3)%H+1]±[(1~3)%H+1.5]
      測試條件
      小曲率半徑(mm)凸1.5凸3
      小面積的直徑(mm)Φ7Φ5
      基體臨厚度(mm)0.50.3
      工作電壓3*1.5V   AAA堿性電池
      外形尺寸155mm*68mm*27mm
      整機重量230g

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       

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